E4991A Keysight RF Impedância / Analisador de Materiais, 3 GHz

Visão geral e recursos

O analisador de impedância/materiais de RF Keysight E4991A oferece o melhor desempenho de medição de impedância e poderosa função de análise integrada. Ele fornecerá inovações em P&D de componentes e designers de circuitos que avaliam componentes na faixa de 3 GHz. O E4991A usa uma técnica de RF-IV, em oposição à técnica de medição de reflexão, para uma medição de impedância mais precisa em uma ampla faixa de impedância. A precisão da impedância básica é mais /-0,8 por cento . A alta precisão Q permite a análise de componentes de baixa perda. O sintetizador interno varre a frequência de 1 MHz a 3 GHz com resolução de 1 mHz.

Avaliação de Materiais:O Agilent E4991A oferece soluções totais de medição de material dielétrico/magnético em ampla faixa de frequência (1 MHz a 1 GHz).

Medição no Wafer:O Keysight E4991A-010 (Agilent), Probe Station Connection Kit, nos permite conectar facilmente o Keysight E4991A (Agilent) a um sistema de sonda de RF da Cascade Microtech para fazer medições de impedância no wafer.

Avaliação da característica de temperatura:O kit de teste de características de temperatura, o E4991A-007, é uma nova solução de medição de características de temperatura para componentes e materiais. Esta opção fornece capacidade de análise de característica de temperatura altamente precisa dentro da ampla faixa de temperatura de - 55 graus a mais de 150 graus com uma poderosa função de compensação de desvio de temperatura.

As principais especificações do analisador de impedância/materiais de RF Keysight E4991A incluem:

● Precisão básica:

mais /- 0.8 por cento de precisão básica

● Parâmetros de varredura

Frequência: 1 MHz a 3 GHz

Nível do oscilador: até 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms

Nível de polarização DC (Opção E4991A-001): mais /- 40V ou mais /- 50 mA

● Mais recursos

Interface de usuário estilo Windows

Função de programação VBA integrada

Transferência de dados através da interface LAN

● Opções de medição versáteis

Medição de material dielétrico/magnético (Opção E4991A-002)

Medição confiável no wafer (opção E4991A-010)

Medição de característica de temperatura (Opção E4991A-007)

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